一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介
HDYM-II便攜式絕緣子鹽密度測(cè)試儀用于電力系統(tǒng)防污閃檢測(cè)，是測(cè)量絕緣子表面等值附鹽密度（以下簡(jiǎn)稱“鹽密”）的測(cè)量?jī)x器，同時(shí)還可以測(cè)量溶液的電導(dǎo)率和溫度。整機(jī)以其測(cè)量精度高、測(cè)量范圍大、使用方便等特點(diǎn)廣泛地應(yīng)用于電力、教學(xué)、科研及其它相關(guān)行業(yè)。
污穢等級(jí)的劃分和污穢等級(jí)分布圖的繪制是防污閃工作的基礎(chǔ)，準(zhǔn)確的污穢等級(jí)分布圖是選擇輸、變電設(shè)備電瓷外絕緣爬距的依據(jù)。絕緣子表面等值附鹽密度值是判斷電瓷外絕緣污穢狀況嚴(yán)重程度的定量數(shù)據(jù)，是劃分污穢等級(jí)和繪制污區(qū)圖的重要依據(jù)之一。因此，鹽密測(cè)量工作對(duì)電力系統(tǒng)安全運(yùn)行有著重要的意義。
參照標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T16434 – 1996《高壓架空線路和發(fā)電廠、變電所環(huán)境污穢分級(jí)及外絕緣選擇標(biāo)準(zhǔn)》
GB/T16434-200X《污穢條件下高壓絕緣子的選擇和尺寸確定第1部分：定義、信息和一般原則》
Q/GDW152-2006《高壓架空線路和發(fā)電廠、變電所環(huán)境污區(qū)分級(jí)及外絕緣選擇標(biāo)準(zhǔn)》
相關(guān)術(shù)語(yǔ)：
1、參照盤形懸式絕緣子 reference cap and pin insulator
XP-70、XP-160、LXP-70和LXP-160普通盤形懸式絕緣子（根據(jù)GB/T 7253），通常7~9片組成一串用來(lái)測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)污穢度。
2、爬電距離 creepage distance
在兩個(gè)導(dǎo)電部分之間，沿絕緣體表面的短距離。
注：水泥或其他非絕緣膠合材料表面不認(rèn)為是爬電距離的構(gòu)成部分。如果絕緣子的絕緣件的某些部分覆蓋有高電阻層，則該部分應(yīng)認(rèn) 為是有效絕緣表面并且沿其上面的距離應(yīng)包括在爬電距離內(nèi)。
3、統(tǒng)一爬電比距 unified specific creepage distance（USCD）
絕緣子的爬電距離與其兩端承擔(dān)的運(yùn)行電壓（對(duì)于交流系統(tǒng)，為相電壓）之比，mm/kV。
4、附鹽密度 salt deposit density（SDD）
人工涂覆于給定絕緣子表面（不包括金屬部件和裝配材料）上NACL總量除以表面積，mg/cm²。
5、等值附鹽密度 equivalent salt deposit density（ESDD）
絕緣子單位絕緣表面上的等值附鹽量，mg/cm²。
6、不溶物密度（簡(jiǎn)稱灰密） non soluble deposit density（NSDD）
絕緣子單位絕緣表面上清洗的非可溶殘留物總量除以表面積，mg/cm²。
7、現(xiàn)場(chǎng)等值鹽度 site equivalent salinity（SES）
根據(jù)GB/T 4585進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)時(shí)的鹽度。用該鹽度試驗(yàn)，在相同絕緣子和相同電壓下，產(chǎn)生的泄露電流峰值與現(xiàn)場(chǎng)自然污穢條件下的泄露電流基本相同。
8、現(xiàn)場(chǎng)污穢度 site pollution severity（SPS）
在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間段內(nèi)測(cè)量到的污穢嚴(yán)重程度ESDD/NSDD或SES的大值。
9、現(xiàn)場(chǎng)污穢度等級(jí) site pollution severity class
將污穢嚴(yán)重程度從非常輕到非常嚴(yán)重按SPS的分級(jí)。
10、帶電系數(shù)K1 energy coefficient K1
同形式絕緣子帶電所測(cè)ESDD/NSDD（SES）值與非帶電所測(cè)ESDD/NSDD（SES）值之比，K1一般為1.1~1.5。
二、功能特點(diǎn)
(1)具有量程自動(dòng)切換功能，測(cè)量速度快（2s/次）。
(2)測(cè)量范圍大，鹽密范圍0.0001mg/cm2～9.9999mg/cm2。
(3)中英文界面可自主切換。
(4)采用2.8寸真彩液晶屏幕。
(5)可直接顯示鹽密度、污穢等級(jí)、統(tǒng)一爬電比距。
(6)自動(dòng)進(jìn)行溫度補(bǔ)償，直接顯示20℃時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)電導(dǎo)率和等值附鹽（ESDD）；
(7)具有自動(dòng)祛除原溶液含鹽量的功能，降低了對(duì)清洗液的要求。
(8)自動(dòng)將不帶電測(cè)量的鹽密度（ESDD）轉(zhuǎn)換為帶電測(cè)量的鹽密度（ESDD）。
(9)可存儲(chǔ)10萬(wàn)組記錄，并可將記錄保存至SD卡在電腦上讀取。
(10)可查閱、刪除單條記錄，也可刪除所有記錄。
(11)內(nèi)置大容量充電鋰電池（2600mAh），適合野外現(xiàn)場(chǎng)使用。
三、產(chǎn)品參數(shù)
3.1 測(cè)量范圍：
鹽密：0.0001mg/cm2～9.9999mg/cm2（按X-4.5型絕緣子為準(zhǔn)）
測(cè)量溫度：0℃～100℃
測(cè)量電導(dǎo)率：0～200000μs/cm
3.2 基本誤差：
測(cè)量鹽密：分辨率0.0001 mg/cm2
滿量程精度：±2%
測(cè)量溫度：分辨率0.1℃，精度±0.5℃
測(cè)量電導(dǎo)率：分辨率0.01μs/cm
3.3 環(huán)境溫度：0℃～60℃。
3.4 環(huán)境濕度: <90%。
3.5 體積與重量
手持主機(jī)尺寸：長(zhǎng)210mm*寬100mm*厚36mm。
整機(jī)機(jī)箱尺寸：長(zhǎng)335mm*寬260mm*高130mm。
手持主機(jī)重量：約0.5Kg。
整機(jī)重量：約2.5Kg。
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試驗(yàn)環(huán)境溫度不低于5℃；相對(duì)濕度：≯80%；5.2.2試驗(yàn)區(qū)域內(nèi)無(wú)交叉施工、無(wú)振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)電、磁場(chǎng)干擾等妨礙試驗(yàn)的工作。5.2.3高壓試驗(yàn)時(shí)，在試驗(yàn)區(qū)域內(nèi)不得有造成其他人危險(xiǎn)的因素。5.2.4電源電壓波動(dòng)幅度不超過(guò)±5%；電源電壓的畸變率不超過(guò)5%，試驗(yàn)電源頻率與額定頻率之差應(yīng)在額定頻率的1%以內(nèi)。5.3試驗(yàn)前的準(zhǔn)備工作
5.3.1 制定試驗(yàn)技術(shù)方案，進(jìn)行技術(shù)交底。5.3.2 布置試驗(yàn)場(chǎng)地，對(duì)正常試驗(yàn)和特殊性試驗(yàn)必須有試驗(yàn)接線圖。
5.3.3 試驗(yàn)接線后需經(jīng)第二人按結(jié)線圖復(fù)查，以保證接線正確。5.3.4 試驗(yàn)前應(yīng)檢查工作電源及接地是否可靠。5.4試驗(yàn)方法
5.4.1測(cè)量繞組的直流電阻試驗(yàn)周期為定期、大修后、必要
- 測(cè)量繞組直流電阻的三種測(cè)試方法：采用感性負(fù)載速測(cè)歐姆計(jì)進(jìn)行測(cè)量，其接線及測(cè)量方法符合儀器測(cè)試要求。測(cè)試中，儀器先對(duì)被試充電，讀取被試品穩(wěn)定后的直流電阻值；用雙臂電橋測(cè)量時(shí)，接線圖如下：
c) 若用單臂電橋測(cè)量阻值較大的繞組，則注意測(cè)量的數(shù)據(jù)應(yīng)減去電橋引線的電阻值。3) 繞組直流電阻測(cè)量時(shí)應(yīng)記錄電抗器及消弧線圈本體溫度，不同溫度下的電阻值按下式換算： R2=R1(T+t2)/ (T+t1)式中R1、R2分別為在溫度t1、t2下的電阻值T為電阻溫度常數(shù)，銅導(dǎo)線取235、鋁導(dǎo)線取225
4) 測(cè)量應(yīng)在常用分接頭的運(yùn)行位置湖州市便攜式絕緣子鹽密度測(cè)試儀訂做湖州市便攜式絕緣子鹽密度測(cè)試儀訂做上進(jìn)行。) 三相電抗器繞組直流電阻相間差值不應(yīng)大于三相平均值的2%。
6) 直流電阻與相同溫度下的以前相同部位測(cè)得值相比較，相應(yīng)變化不應(yīng)大于2%。7) 如直流電阻相間差在出廠時(shí)已超過(guò)規(guī)定，制造廠說(shuō)明了產(chǎn)生這種偏差的原因，可與相同溫度下的產(chǎn)品出廠值比較，相應(yīng)變化不應(yīng)大于2%。5.4.2測(cè)量繞組的絕緣電阻、吸收比1) 試驗(yàn)周期為定期、大修后、必要時(shí)。
2) 使用2500V或5000V兆歐表測(cè)量絕緣電阻和收比R60/R15， 測(cè)量前被試?yán)@組應(yīng)充分放電。3) 絕緣電阻換算至同一溫度下，與前一次測(cè)試結(jié)果相比
