本儀器主要測(cè)試薄的熱導(dǎo)體、硅膠、硅橡膠、固體電絕緣材料、導(dǎo)熱硅膠、導(dǎo)熱樹脂、氧化鈹瓷、陶瓷基片、其他鋁基片、陶瓷基板、氧化鋁瓷等陶瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定。檢測(cè)材料為固態(tài)片狀,加圍框可檢測(cè)粉狀態(tài)材料及膏狀材料。采用工控機(jī),結(jié)構(gòu)緊湊,可靠性高。
儀器參考標(biāo)準(zhǔn):MIL-I-49456A(絕緣片材、導(dǎo)熱樹脂、熱導(dǎo)玻纖增強(qiáng));GB 5598-85(氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法);ASTM D5470-2006(薄的熱導(dǎo)性固體電絕緣材料傳熱性能的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn))等。廣泛應(yīng)用在大中院校,科研單位,質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料分析檢測(cè)。
DRL-II-A熱流法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀(一體機(jī))
一、 概述:
本儀器主要測(cè)試薄的熱導(dǎo)體、硅膠、硅橡膠、固體電絕緣材料、導(dǎo)熱硅膠、導(dǎo)熱樹脂、氧化鈹瓷、陶瓷基片、其他鋁基片、陶瓷基板、氧化鋁瓷等陶瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定。檢測(cè)材料為固態(tài)片狀,加圍框可檢測(cè)粉狀態(tài)材料及膏狀材料。采用工控機(jī),結(jié)構(gòu)緊湊,可靠性高。
儀器參考標(biāo)準(zhǔn):MIL-I-49456A(絕緣片材、導(dǎo)熱樹脂、熱導(dǎo)玻纖增強(qiáng));GB 5598-85(氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法);ASTM D5470-2006(薄的熱導(dǎo)性固體電絕緣材料傳熱性能的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn))等。廣泛應(yīng)用在大中院校,科研單位,質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料分析檢測(cè)。
1、試樣大小:≤Φ30mm
2、試樣厚度:0.02-20mm
6、熱阻測(cè)試范圍:0.05~0.000005m2*K/W