IMLD-B半導體式中空玻璃露點儀是根據(jù)國家標準GB/T 11944—2002規(guī)定的技術條件制造的一種儀器。用于檢測中空玻璃試樣內(nèi)表面在標準規(guī)定條件和方法情況下是否結(jié)露。
應用領域：大專院校、科研單位、中空玻璃生產(chǎn)、使用單位以及相關檢測單位。
產(chǎn)品特點
應用領域：大專院校、科研單位、中空玻璃生產(chǎn)、使用單位以及相關檢測單位。
產(chǎn)品特點
1. IMLD-B半導體式中空玻璃露點儀采用半導體三級制冷的技術，制冷的溫度可以**設定和控制，制冷速度快，操作十分方便，不僅可以在試驗室內(nèi)使用，而且可在現(xiàn)場進行檢測，不需要使用容易揮發(fā)的干冰，使用方便且使用成本低廉。
2. 探頭和制冷機組可實現(xiàn)分離，方便實用且不受試件方向限制。
3. 集成了電源、冷卻、循環(huán)和控制系統(tǒng)，實現(xiàn)全過程自動控制，機箱和探頭由軟管連接，檢測時探頭的工作面與試件接觸，探頭的工作面可以為任意方向。
4. 采用pt100溫度探頭，測量精度高，數(shù)據(jù)準確。
5. 溫度值控制采用微機溫控PID調(diào)節(jié)技術，控溫精度高，溫度穩(wěn)定性高。
2. 探頭和制冷機組可實現(xiàn)分離，方便實用且不受試件方向限制。
3. 集成了電源、冷卻、循環(huán)和控制系統(tǒng)，實現(xiàn)全過程自動控制，機箱和探頭由軟管連接，檢測時探頭的工作面與試件接觸，探頭的工作面可以為任意方向。
4. 采用pt100溫度探頭，測量精度高，數(shù)據(jù)準確。
5. 溫度值控制采用微機溫控PID調(diào)節(jié)技術，控溫精度高，溫度穩(wěn)定性高。
技術指標
1. 測量探頭工作溫度：≤－40℃
2. 測量探頭直徑：50mm
3. 數(shù)顯溫度計測量范圍：-80℃~ 50℃
4. 溫度計精度：0.1℃
5. 試件尺寸：510mm×360mm
6. 控制箱尺寸：500×300×400（mm） (長×寬×高)
7. 試驗環(huán)境：溫度：23℃±2℃ 相對濕度：30%~75%R
8. 試驗時間
1. 測量探頭工作溫度：≤－40℃
2. 測量探頭直徑：50mm
3. 數(shù)顯溫度計測量范圍：-80℃~ 50℃
4. 溫度計精度：0.1℃
5. 試件尺寸：510mm×360mm
6. 控制箱尺寸：500×300×400（mm） (長×寬×高)
7. 試驗環(huán)境：溫度：23℃±2℃ 相對濕度：30%~75%R
8. 試驗時間
| 原片玻璃厚度/毫米 | 接觸時間/分鐘 |
| ≦4 | 3 |
| 5 | 4 |
| 6 | 5 |
| 8 | 7 |
| ≧10 | 10 |
