UAJS-C全自動介損測試儀又稱全自動抗干擾介損測試儀或介質損耗測試儀，抗干擾介損測試儀是發(fā)電廠、變電站等現場全自動測量各種高壓電力設備介損正切值及電容量的高精度測試儀,該全自動抗干擾介損測試儀還包括介損測試儀,抗干擾介損測試儀,異頻介質損耗測試儀,全自動介質損耗測試儀
UAJS-C全自動抗干擾介損測試儀是武漢微安電力產品研發(fā)部參照行業(yè)標準以及電力試驗規(guī)程規(guī)范研發(fā)生產的高精度介質損耗測試儀, UAJS-C全自動抗干擾介損測試儀適用于發(fā)電廠、變電，互感器制造廠家以及電力檢修部門，全自動測量各種高壓電力設備介損正切值及電容量的高精度測試儀，由于采用了變頻技術，濾掉了工頻現場產生的干擾，保證該測試儀在強電場干擾下準確測量測試儀采用中文菜單操作界面，微機全自動完成全整個過程的測量。
UAJS-C全自動抗干擾介損測試儀同樣適用于車間、試驗室、科研單位測量高壓電器設備的tgδ及電容量，可用正、反接線方法測量被試品不接地或直接接地的高壓電器設備，UAJS-C全自動抗干擾介損測試儀還可以測量電容式電壓互感器的tgδ及主電容C1、C2電容量。UAJS-C全自動抗干擾介損測試儀機構部分采用了高壓升壓變壓器，完善的過零合閘、防雷擊等安全保護措施，試驗過程中輸出0.5KV～10kV不同等級的高壓，使用過程中操作簡單、安全。
| 名稱 | UAJS-C系列抗干擾異頻介質損耗測試儀 | |||||||||
| 說明 | 表格中"●"代表為有該功能 | |||||||||
| 型號/功能(A) | 正接法 | 反接法 | CVT自激法 | C1/C2同測 | CVT變比 | 低壓屏蔽測試 | 外接標準 | 外接高壓 | 高壓短路保護 | CVT過壓保護 |
| UAJS-C20 | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |||
| UAJS-C30(推薦) | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
1、具備CVT的自激法測試，一次接線，同時測量C1、C2的電容和tgδ
2、具有外施電壓和外加CN的測量功能
3、儀器測量準確度高，可滿足油介損測量要求，因此只需配備標準油杯，和專用測試線即可實現油介損測量
4、采用變頻技術來消除現場50Hz工頻干擾，即使在強電磁干擾的環(huán)境下也能測得可靠的數據
5、接地保護功能，當儀器不接地線或接地不良時，儀器不進入正常程序，不輸出高壓
6、過流保護功能，在試品短路或擊穿時儀器不受損壞
7、內附標準電容和高壓電源，便于現場測試，減少現場接線
8、儀器采用大屏幕液晶顯示器，測試過程通過漢字菜單提示既直觀又便于操作
| 型號 | UAJS-C | |
| 名稱 | 抗干擾介損測試儀 | |
| 高壓輸出 | 0.5～10kV | 每一檔增加500V，共有十檔，容量：1500VA |
| 準 確 度 | tgδ | ±(讀數*1.0%+0.04%) |
| Cx | ±(讀數*1.0%+5PF) | |
| 分 辨 率 | tgδ | 0.01% |
| Cx | 1pF | |
| 測量范圍 | 0.1%＜tgδ＜50% | |
| 3PF＜Cx＜60000PF | ||
| 10KV時，Cx≤30000PF | ||
| 5KV時，Cx≤60000PF | ||
| 電 源 | AC220V士10%，50士1Hz | |
| 諧波適應 | ≤3% | |
| 使用條件 | -15℃～50℃ | |
| 相對濕度 | ＜80% | |
| 尺寸 | 460×335×340mm3 | |
| 重量 | 30kg | |
本產品UAJS-C抗干擾介損測試儀詳細清單請以說明書或代銷合同為準
| 異頻介質損耗測試儀 | 1臺 | 高壓HVx測試電纜（紅色） | 1根 |
| 專用Cx測試電纜（黑色） | 1根 | 低壓輸出測試電纜（CVT用，雙芯） | 1根 |
| 電源線 | 1根 | 保險管，打印紙 | 2份 |
| 檢驗報告 | 1本 | 說明書 | 1本 |
| 合格證 | 1張 |
《GB50150-2016》中變壓器繞組連同套管tanδ及電容量標準
• 《DL/T 596-1996電力設備預防性試驗規(guī)程》也是如下要求
• 變壓器電壓等級≥35KV且容量≥10000kVA以上時應測量介質損耗因素(tanδ)
• 被測繞組的tanδ應≤出廠試驗值的130%,當＞130%時,應結合其他試驗結果分析判斷
• 現場測量溫度與出廠試驗溫度不符合時，應換算到同一溫度比較(參考標準附錄C表)
• 變壓器本體電容量與出廠值比較的允許偏差為±3%
《DLT596-2005》中變壓器/電抗器繞組、電容型套管tanδ標準
• 繞組在在20℃時、35kV及以下≤1.5%、66~220kV≤0.8%、330~500kV≤0.6%
• 繞組tanδ與歷年數值的比較不應該有顯著變化(一般不大于30%)
• 電容型套管末屏對地絕緣電阻小于100MΩ時，其末屏對地tanδ應≤2%
• 電容型套管的電容值與出廠值或上一次試驗的差別超過±5%時，應查明原因
• 電容型套管的允許的介質損耗因素(tanδ)請參考右表
異頻介質損耗測試儀測試結果分析及含義
• tgx： 被試品的介質損耗值、Tanδ = tg (δ )
• Cx ： 被試品的電容容量
• PF ： 被試品的功率因素、PF = cos (θ)
• Ιx ： 被試品的測試電流
• Pr ： 容性設備的有功功率、Pr =Ux * Ιx * cos (θ)
• HV： 被試品的測試電壓
• f ： 被試品的測試頻率
