X熒光光譜儀由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X熒光光譜儀能將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。
X熒光光譜儀是一種無損的,應(yīng)用廣泛的光譜分析儀器,X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成,X射線管產(chǎn)生入射X射線,激發(fā)被測樣品,受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。

X熒光光譜儀在無損檢測方面,具有其他剖析技能無法比較的長處,應(yīng)用X射線光譜儀掃描辦法探測土壤表層下面的是元素是X射線無損檢側(cè)技能的一個主要使用范疇,X熒光光譜儀根據(jù)有手持和臺式兩種,所采用的都是X熒光光譜儀的原理,X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成,根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,也可以獲得各元素的含量信息。

X熒光光譜儀根據(jù)其分光原理不同分成波長色散型X熒光光譜儀(波譜儀,WDXRF)和能量色散型X熒光光譜儀(能譜儀,EDXRF),我們通常所說的X熒光光譜儀就是指波長色散的儀器,X熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量剖析,元素局限13Al-92U,含量局限ppb至,檢出限到2pg。

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