有兩種測(cè)試模式:普通模式(NORMAL)和低阻模式(FAST),在普通模式(NORMAL)即可以很簡(jiǎn)便擴(kuò)展到測(cè)量更大的電流,也能測(cè)量極微弱電流和測(cè)量電容較大的測(cè)量對(duì)象。
在低阻快速模式(FAST)下,其輸入端壓降幾乎為0(μV量級(jí)),在測(cè)量電路中幾乎不產(chǎn)生壓降,也即電流表的內(nèi)阻幾乎為0[1],所以不會(huì)影響原電路中的電流,這種方式下測(cè)量精度更高,適用于測(cè)量低壓降高內(nèi)阻的測(cè)量對(duì)象。
外加直流電壓源可用于測(cè)量超高電阻。