日本分光TOF載流子遷移率測試儀
描述
TOF載流子遷移率測試儀CMM-250是測量薄膜電子和空穴的遷移率的有效評價系統(tǒng)，主要用于EL元件和太陽能電池等測試。
我們有防噪聲系統(tǒng)和*的信號處理，明顯降低了噪聲，響應(yīng)速度快，如納米二階和高靈敏度已經(jīng)達(dá)到為了測量電子和空穴的遷移率?？筛鼡Q不同的模具（作為一個選項）模具的激光使系統(tǒng)振蕩的波長范圍從分子與脈沖寬度縮短600P秒熒光.
我們的除了TOF法測測量，也可選FET方法測量。
特點
1、在納米秒的時間分辨率?以10-7-10-1cm2 / V·秒速度移動
（這可能改變?nèi)Q于樣品的厚度）。
2、有簡單操作和探針樣品室
3、新設(shè)計的光學(xué)系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理，能夠獲得高信噪比的資料
規(guī)格
光源：氮激發(fā)光模激光器
氮激光脈沖寬度：600psec
氮激光輸出：250KW＠10Hz
輸出波長：337.1nm
模具的激光脈沖寬度：400psec(在480nm)
分辨率：測量時間小于10納秒
測量流動范圍：10-7 ~ 10-1cm2 / V.秒
(流動性不能在這個范圍內(nèi)測量)
偏置電壓：0～±500V
負(fù)載電阻：50Ω～100KΩ 5steps
360～720nm（模具可選）
軸的時間分辨率：8位（平均11位）
同步：光電二極管激勵光監(jiān)測系統(tǒng)
個人電腦
激光控制：激光開/關(guān)
數(shù)據(jù)采集：次把握~ 256槍
數(shù)據(jù)分析：數(shù)據(jù)顯示并保存
Y和X軸對數(shù)轉(zhuǎn)換
遷移時間和遷移率的計算
