低阻抗分析儀MCP-T370表面低阻抗儀MCP-T370（替代MCP-T360）
低阻抗分析儀MCP-T370四探針方案-一觸式高精度的各種材料的表面電阻率測量。
查找只需按下啟動按鈕，確認(rèn)自動測量功能，可自動保持當(dāng)前的測量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準(zhǔn)模式。檢查探頭校準(zhǔn)片（另售），以確認(rèn)Roresuta AX測試值的準(zhǔn)確性。
測量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲器。
規(guī)格 測量方法 四端四探針法
施加恒定電流的方法 測量范圍 10 -2?10 6 Ω 標(biāo)準(zhǔn)配置 四探針探頭（ASP）AC適配器 說明書 檢查確認(rèn)書
| 選項 |
| 探頭選項 | ||
| 類型 | 適用被測試樣品 | 型號 |
| ESP | 對于異類樣本 | MCP - TP08P |
| PSP | 小樣本的薄膜 | MCP - TP06P |
| QPP | 對于小樣本 | MCP - TPQPP |
| TFP | 有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜 | MCP - TFP |
| 校準(zhǔn)塊 | 型號：MCP - TRF1 |
