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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生...

J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）絕緣電阻值測試，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。

J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短...

HIRAYAMA公司專業(yè)從事研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、高壓殺菌器，醫(yī)療設(shè)備，HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱 HAST/PCT設(shè)備。高加速壽命試驗(yàn)箱

HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱具備 非飽和/飽和控制 兩種模式。具備可記錄150個程序的控制器，操作簡單方便。箱門采用按鈕式，試驗(yàn)中自動鎖緊，安全可靠。通過緩...

HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱（Hast）PC-422R8D高加速壽命試驗(yàn)箱（Hast），HIRAYAMA的雙箱體系統(tǒng)精度高，測試箱體和蒸汽發(fā)生器相互合作，獨(dú)...

HIRAYAMA公司生產(chǎn)的HAST/PCT設(shè)備種類齊全，性能穩(wěn)定，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子零件制造商或與半導(dǎo)體光伏、電路板等。HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱

HIRAYAMA產(chǎn)品具有中華人民共和國特種設(shè)備制造許可證、ISO9001質(zhì)量認(rèn)證ISO14001環(huán)境質(zhì)量認(rèn)證、TUV質(zhì)量認(rèn)證、CE認(rèn)證等相關(guān)認(rèn)證。 HIRAYA...

拉力機(jī)：萬能材料試驗(yàn)機(jī)是采用微機(jī)控制全數(shù)字寬頻電液伺服閥，驅(qū)動精密液壓缸，微機(jī)控制系統(tǒng)對試驗(yàn)力、位移、變形進(jìn)行多種模式的自動控制，完成對試樣的拉伸、壓縮、抗彎試...

Analysis熱導(dǎo)系統(tǒng)測試儀是一套自動測量系統(tǒng)，用來測量那些電子封裝材料和多種柔性的，堅(jiān)硬的，半固狀的和粘稠狀的材料熱阻抗和熱導(dǎo)率需要測量的樣品被夾在兩個平行...

美國英特普羅電源測試系統(tǒng)已為許多電源生產(chǎn)商設(shè)計(jì)、建造和整合各種電源測試設(shè)備。產(chǎn)品解決方案電子負(fù)載模塊化16位負(fù)載，型號有300，610插槽模塊化負(fù)載機(jī)箱

深圳市世紀(jì)天源儀器有限公司是HIRAYAMA代理，供應(yīng)的HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱性能穩(wěn)定，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子零件制造商或與半導(dǎo)體光伏、電路板等相關(guān)的使用...

J-RAS代理離子遷移試驗(yàn)裝置 CAF測試，J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）ECM-100是可以單獨(dú)試驗(yàn)的ALL-IN-ONE檢測系統(tǒng)，并且重要的試驗(yàn)數(shù)據(jù)被...

ANATECH熱阻測試儀Phascl2主要用于測試二極管，三極管，線形調(diào)壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IlGBT，IC等分立功率器件的熱阻...

日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過長時間的測試（1 ～...

導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。

日本HIRAYAMA高壓蒸煮試驗(yàn)箱（PCT）PC-242HS-A，其生產(chǎn)的HAST/PCT設(shè)備種類齊全，性能穩(wěn)定，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子零件制造商或與半導(dǎo)體光伏、電...

日本HIRAYAMA高壓蒸煮試驗(yàn)箱（PCT）PC-305SIII，其生產(chǎn)的HAST/PCT設(shè)備種類齊全，性能穩(wěn)定，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子零件制造商或與半導(dǎo)體光伏、電...

日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF） CAF試驗(yàn)/CAF測試是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經(jīng)...

HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱（HAST）適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)...