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    1．在測(cè)高層建筑物接地時(shí)，阻值為什么會(huì)比地面阻值大。且顯示數(shù)據(jù)跳動(dòng)嚴(yán)重，是什么原因造成的，如何避免？
    這是因?yàn)楦邔咏ㄖy(cè)量時(shí)，高層建筑物接地引線與地之間存在著一定的阻值（R地線）另外從高層建筑物上面測(cè)量點(diǎn)向地面儀表所引接的測(cè)試線，在空中的部分存在線電感。（WL）所以高層建筑接地點(diǎn)測(cè)量的阻值為R=R地線+WL+R地。地面測(cè)量接地電阻R=R地。
    測(cè)量數(shù)據(jù)比地面測(cè)量時(shí)跳動(dòng)要嚴(yán)重，這是因?yàn)闇y(cè)試線在空中的加長，如同一根天線將空中一些無線電、電磁雜波等信號(hào)通過測(cè)試線引向儀表，而產(chǎn)生嚴(yán)重干擾，使測(cè)量數(shù)據(jù)跳動(dòng)，解決的方法是，用一根同軸線作為測(cè)試引線，將同軸線和芯線連接在一起，并接在測(cè)試點(diǎn)上。將同軸線另一端的屏蔽線接在儀表的C2端上（即電流極），將同軸線的芯線接在儀表P2端上（即電壓極），這樣能較好地解決測(cè)量高層接地電阻由于引線過長造成干擾影響。
    2．被保護(hù)的電器設(shè)備的接地端是否可以不斷開測(cè)試，對(duì)測(cè)試儀表或被保護(hù)電器設(shè)備有什么影響？
    一般情況下，在測(cè)試接地電阻時(shí)，要求被保護(hù)電器的設(shè)備與其接地端斷開，這是因?yàn)槿绻粩嚅_被保護(hù)的電器設(shè)備在接地電阻過大或接觸不好的情況下，儀表所加在接地端的電壓或電流會(huì)反串流入被保護(hù)的電器設(shè)備，如果一些設(shè)備不能抵抗儀表所反串的電壓電流，可能會(huì)給電器設(shè)備造成損壞，另外一些電器設(shè)備由于漏電，使漏電電流經(jīng)過測(cè)試線進(jìn)入儀表，將儀表燒壞。所以一般情況要求斷開被保護(hù)的電器設(shè)備。在接地良好的情況下，可以不斷開被保護(hù)電器設(shè)備進(jìn)行測(cè)量。
    3．為什么地阻表的C2P2和C1P1不能調(diào)換接線？
    由于地阻表內(nèi)部電路設(shè)計(jì)原理C2為測(cè)試極準(zhǔn)電位，要與后級(jí)基準(zhǔn)嚴(yán)格相等，因此，需直截接至被測(cè)地網(wǎng)電極，P1、P2為信號(hào)通道，二者可以互換，C2和C1不能互換。
    4．哪些因素影響土壤電阻率測(cè)量？土壤電阻率不僅隨土壤的類型變化，且隨溫度、濕度、含鹽量和土壤的緊密程度而變化。
    5．在測(cè)接地電阻時(shí)，有哪些因素造成接地電阻不準(zhǔn)確，如何避免？
    A）測(cè)試夾與接地測(cè)量點(diǎn)接觸電阻過大。解決的方法是，將接觸點(diǎn)用銼刀或砂紙磨光，用測(cè)試線夾子充分夾好磨光觸點(diǎn)。
    B）干擾影響。解決的方法，調(diào)整放線方向，盡量避開干擾大的方向，使儀表讀數(shù)減少跳動(dòng)。
    C）儀表使用問題。電池電量不足，解決的方法是，更換電池。儀表度下降，解決的方法是，重新校準(zhǔn)為零。
    D）接地系統(tǒng)（地網(wǎng)）周邊土壤構(gòu)成不一致，地質(zhì)不一，緊密、干濕程度不一樣，具有分散性，地表面雜散電流、特別是架空地線、地下水管、電纜外皮等等，對(duì)測(cè)試影響特別大。解決的方法是，取不同的點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量，取平均值。
    E）測(cè)試線方向不對(duì)，距離不夠長，解決的方法是，找準(zhǔn)測(cè)試方向和距離。
    F）輔助接地極電阻過大。解決的方法是，在地樁處潑水或使用降阻劑降低電流極的接地電阻。
    6．為什么在測(cè)接地電阻時(shí)，要求測(cè)量線分別為20m和40m，它與鉗形地阻表有什么區(qū)別？
    這是因?yàn)闇y(cè)接地電阻時(shí)，要求測(cè)的是接地極與電位為零的遠(yuǎn)方接地極之間的電阻，所謂遠(yuǎn)方是指一段距離，在此距離下，兩個(gè)接地極的互阻基本為零，經(jīng)實(shí)驗(yàn)得出，20m以外距離符合此要求。如果線距縮短，測(cè)量誤差會(huì)逐漸加大。
    鉗形地阻表只能測(cè)量多點(diǎn)接地，測(cè)量結(jié)果是，被測(cè)地極與多個(gè)接地極并聯(lián)值的和，而測(cè)量單點(diǎn)接地時(shí)要接輔助電極，使測(cè)試電路形成回路，所以測(cè)量誤差要大一些。但操作方便。